特許
J-GLOBAL ID:201103070327006519
デューティ測定装置、及びデューティ測定方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
早瀬 憲一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-335833
公開番号(公開出願番号):特開2001-153905
特許番号:特許第3450769号
出願日: 1999年11月26日
公開日(公表日): 2001年06月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 電源とグランドとに接続され、被測定信号を出力する出力バッファと、上記出力バッファの出力側に設けられ、該出力バッファ内部のHIGH側の出力インピーダンス、及びLOW側の出力インピーダンスの変動による出力信号の変動を抑える抵抗と、上記抵抗の一端側端子からの電圧を平滑化する容量と、上記出力バッファの被測定信号が出力される端子と上記抵抗の他端側端子との間に設けられた被測定信号選択スイッチと、上記電源と上記抵抗の他端側端子との間に設けられた電源側選択スイッチと、上記グランドと上記抵抗の他端側端子との間に設けられたグランド側選択スイッチとを備えた、ことを特徴とするデューティ測定装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
審査官引用 (2件)
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半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-154160
出願人:富士通株式会社
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特開昭50-037472
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