特許
J-GLOBAL ID：201103070625926272
材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置
出願人/特許権者：
株式会社鷺宮製作所
株式会社鷺宮製作所 について
代理人 (3件)： 高橋 英生 , 浅見 保男 , 武山 吉孝
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-269932
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091428
特許番号：特許第3747137号
出願日： 1999年09月24日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
請求項（抜粋）：
【請求項1】材料試験片に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行う材料試験装置におけるデータサンプル方法であって、
前記本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第1サンプリングと、
この第1サンプリングとは別に、前処理工程および本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第2サンプリングとを行っていることを特徴とする材料試験装置におけるデータサンプル方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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