特許
J-GLOBAL ID:201103072456352450

表示装置及びその欠陥修復方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森岡 正樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-329804
公開番号(公開出願番号):特開2001-147649
特許番号:特許第4584387号
出願日: 1999年11月19日
公開日(公表日): 2001年05月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 基板上に画素領域が形成された表示装置の欠陥修復方法において、 複数の交差した導電層が絶縁層を挟んで積層された交差部及び該交差部近傍に対してレーザ光を照射して、前記交差部に層間短絡あるいは前記交差部近傍に同層短絡が生じないように前記交差部及び前記交差部近傍の上層の導電層のうち下層の導電層の幅よりも長い切断部及び該切断部の両端部だけを選択的に除去する工程を含むこと を特徴とする欠陥修復方法。
IPC (4件):
G09F 9/00 ( 200 6.01) ,  B23K 26/00 ( 200 6.01) ,  G02F 1/1345 ( 200 6.01) ,  H01L 29/786 ( 200 6.01)
FI (4件):
G09F 9/00 352 ,  B23K 26/00 C ,  G02F 1/134 ,  H01L 29/78 612 A
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (9件)
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