特許
J-GLOBAL ID：201103072519068324

画像読取装置のずれ診断方法

発明者：
上諏訪 吉克

上諏訪 吉克 について


出願人/特許権者：
東芝テック株式会社

東芝テック株式会社 について

, 
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (12件)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次 ,  鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-174067
公開番号（公開出願番号）：特開2001-007970
特許番号：特許第4249849号
出願日： 1999年06月21日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 原稿に光を当てる光源、原稿からの反射光を受光して原稿に関する画像信号を検出する光学素子、および原稿からの反射光を上記光学素子へ導く複数の光学部材を有する画像読取装置のずれ診断方法であって、 上記画像読取装置の本体には、原稿に沿って第1の方向に延びた線分およびこの第1の方向に対して傾斜した線分を有する第1のマーク、および上記第1の方向にそれぞれ延び且つ原稿に沿って上記第1の方向と直交する第2の方向に並んだ複数組の白黒一対のペアラインを有する第2のマークを有する診断用のチャートが、原稿に隣接した位置に設けられ、 上記光学素子は、上記第2の方向に沿って並設された複数の光電変換素子を有し、 上記画像読取装置は、上記光学素子による受光倍率を変更可能な構成を有し、 上記第2のマークの上記ペアラインは、上記受光倍率に応じて上記第2の方向に沿って徐々に異ならせた幅を有し、 上記光源を介して、上記チャートに光を当て、その反射光を上記複数の光学部材を介して上記光学素子の複数の光電変換素子へ導き、これら複数の光電変換素子により上記第1および第2のマークに関する画像信号を検出し、この検出した画像信号に基づいて、上記光源、光学部材、および光学素子を含む上記画像読取装置を構成した各構成要素のずれを診断するとともに、 上記光学素子を介して検出した上記第2のマークのペアラインのうち上記受光倍率に応じた幅を有するペアラインの濃度差およびMTF特性のうちいずれか一方を算出し、この算出結果からピントずれを診断する方法。
IPC (4件)：
H04N 1/00 ( 200 6.01) ,  H04N 1/04 ( 200 6.01) ,  H04N 1/10 ( 200 6.01) ,  H04N 1/107 ( 200 6.01)
FI (3件)：
H04N 1/00 106 C ,  H04N 1/04 Z ,  H04N 1/10
引用特許：
審査官引用 (6件)
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