粒径分布測定装置および粒径分布測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：藤本英夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-256436
公開番号（公開出願番号）：特開2001-083074
特許番号：特許第3689276号
出願日： 1999年09月10日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
請求項（抜粋）：

【請求項1】測定対象試料にレーザ光を照射して、生じる散乱光を電気的な検出信号に変換し、この検出信号を逆演算して試料に含まれる粒子の粒径分布を算出する粒径分布測定装置において、測定対象試料の温度を測定するために測定対象試料を保持するホルダに取り付けられて間接的にその温度を測定する外部温度センサと、直接的に測定対象試料の温度を測定する内部温度センサとを有し、測定対象試料に応じて使用する温度センサを選択可能とし、選ばれた温度センサによって測定された測定対象試料の温度をストークスアインスタインの式に代入して応答関数を求めることにより粒径分布の逆演算を行なう演算処理部を有することを特徴とする粒径分布測定装置。

IPC (1件)：