非破壊検査方法及び非破壊検査装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：中島淳 , 加藤和詳 , 西元勝一 , 福田浩志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-074672
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277442
特許番号：特許第4113681号
出願日： 2001年03月15日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
請求項（抜粋）：

【請求項1】磁性化可能となりうる非磁性体からなる被検査体を着磁処理し、着磁処理した前記被検査体の漏洩磁束密度分布を測定し、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値の分布に沿った方向を前記被検査体の損傷部の進展方向とする推定、前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値の絶対値が大きいほど前記被検査体の損傷部の応力拡大係数範囲が大きいとする推定、及び前記漏洩磁束密度分布の磁束密度ピーク値間の距離が長いほど前記被検査体の損傷部の損傷長が長いとする推定、の少なくとも1つの推定を行う、非破壊検査方法。

IPC (3件)：