半導体集積回路

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：恩田博宣 , 恩田誠
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-016864
公開番号（公開出願番号）：特開2000-216679
特許番号：特許第4074023号
出願日： 1999年01月26日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】アナログ入力信号を処理する複数のアナログ処理回路と、前記アナログ入力信号が共通のノードを介して供給され、前記アナログ入力信号に基づく内部アナログ信号をそれぞれ独立したノード配線を介して前記各アナログ処理回路に供給する入力制御手段と、を備え、前記各アナログ処理回路は、前記内部アナログ信号と基準電圧を比較し、その比較結果を出力する電圧比較回路を含み、該電圧比較回路は、前記内部アナログ信号をサンプリングするスイッチ回路と、前記基準電圧をサンプリングするスイッチ回路と、を含み、前記入力制御手段は、導通状態と非導通状態の2状態を持ち、前記アナログ処理回路の動作に基づいて前記入力制御手段の状態を同相にて制御する状態制御手段を備えた、ことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：

H03M 1/14 ( 200 6.01) , H03M 1/34 ( 200 6.01)

FI (2件)：

H03M 1/14 A , H03M 1/34

引用特許：

出願人引用 (7件)

電圧比較器
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-256367 出願人：三菱電機株式会社
特開平4-222120
特開平2-105629

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審査官引用 (1件)

電圧比較器
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-256367 出願人：三菱電機株式会社

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