特許
J-GLOBAL ID:201103075571556018

電解質・電極積層体の製造方法、電解質・電極積層体及び全固体電池

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 岸本 達人 ,  星野 哲郎 ,  山下 昭彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-059668
公開番号(公開出願番号):特開2011-192606
出願日: 2010年03月16日
公開日(公表日): 2011年09月29日
要約:
【課題】固体電解質層と、該固体電解質層に焼結接合された電極層とを含む電解質・電極積層体であって、層間の剥離や層の亀裂等の発生が抑制され、固体電解質層と電極層との接合性に優れた電解質・電極積層体を提供する。また、内部抵抗の低い全固体電池を提供する。【解決手段】少なくとも、固体電解質層と、該固体電解質層に焼結接合された電極層とを含む、電解質・電極積層体の製造方法であって、焼結温度がTS1である第1のセラミックス固体電解質及び焼結温度が前記焼結温度TS1より高いTS2である第2のセラミックス固体電解質を少なくとも含む固体電解質前駆層と、電極活物質及び焼結温度が前記焼結温度TS2より低いTS3である第3のセラミックス固体電解質を少なくとも含む電極前駆層とを、焼結接合する焼結接合工程を有する電解質・電極積層体の製造方法、該製造方法により得られる電解質・電極積層体、並びに該電解質・電極積層体を備える全固体電池。【選択図】図1
請求項(抜粋):
少なくとも、固体電解質層と、該固体電解質層に焼結接合された電極層とを含む、電解質・電極積層体の製造方法であって、 焼結温度がTS1である第1のセラミックス固体電解質(C1)及び焼結温度が前記焼結温度TS1より高いTS2である第2のセラミックス固体電解質(C2)を少なくとも含む固体電解質前駆層と、電極活物質及び焼結温度が前記焼結温度TS2より低いTS3である第3のセラミックス固体電解質(C3)を少なくとも含む電極前駆層とを、焼結接合する焼結接合工程を有することを特徴とする、電解質・電極積層体の製造方法。
IPC (2件):
H01M 10/056 ,  H01M 10/058
FI (2件):
H01M10/00 107 ,  H01M10/00 115
Fターム (16件):
5H029AJ06 ,  5H029AJ11 ,  5H029AK01 ,  5H029AK02 ,  5H029AK03 ,  5H029AK06 ,  5H029AK11 ,  5H029AL01 ,  5H029AL02 ,  5H029AL03 ,  5H029AL06 ,  5H029AL11 ,  5H029AM11 ,  5H029AM14 ,  5H029CJ02 ,  5H029HJ14
引用特許:
審査官引用 (5件)
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