特許
J-GLOBAL ID：201103077343206018
金属層の厚さの過渡サーモグラフィ測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
荒川 聡志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-612695
特許番号：特許第4683728号
出願日： 2000年04月13日
請求項（抜粋）：
【請求項1】熱拡散係数(α)を有する対象物(1)の厚さを求める高速赤外線(IR)過渡サーモグラフィ方法であって、
(x)長波長の赤外線の残光放出を防止するフィルタを透過したストロボ熱パルス源(11)からの熱パルスを、対象物(1)および該対象物と同じ組成を持ち熱的に厚い領域(3)を有する基準物(2)に一緒に当てる工程と、
(a) 赤外線(IR)に感応するフォーカルプレーンアレイカメラ(13)より取得した、前記熱パルスが当てられた前記対象物(1)及び前記基準物(2)の表面温度についての所定の連続画像フレームからの画素輝度データを格納する工程であって、所定時間に渡って連続して取得した連続画像フレーム各々に、経過時間に線形対応して増加する値を持つフレーム番号が割り当てられている、当該格納工程と、
(b) 前記連続画像フレームからの画素に対する画素輝度データを用いて、前記対象物についての時間対温度曲線(ttcurve)から前記基準物についての時間対温度曲線(refcurve)を減算して、画素コントラスト曲線(concurve)を決定する工程と、
(c) 前記工程(b)で求めた画素コントラスト曲線についてのデータの時間的なガウシアン平滑化を実行する工程と、
(d) 時間的なガウシアン平滑化後、コントラスト曲線に沿った個別のデータ時点から画素コントラスト曲線データの時間微分を求める工程と、
(e) 画素コントラスト曲線データの時間微分値における局在性ピーク微分値を特定する工程と、
(f) 前記工程(e)で特定した前記局在性ピーク微分値に所定の重みづけ関数を適用して、特定された各微分ピーク値に対する有意値を決定する工程と、
(g) 前記工程(f)で決定した最有意値に基づいて、1つのコントラスト曲線微分ピーク値を選択する工程と、
(h) 前記工程(g)で選択したコントラスト曲線微分ピーク値が発生する画像フレームのフレーム番号に対応する経過時間と前記熱拡散係数(α)とに基づき、対象物の厚さLを求める工程と
を備えることを特徴とする赤外線(IR)過渡サーモグラフィ方法。
IPC (2件)：
G01B 11/06 ( 200 6.01)
, G01J 5/48 ( 200 6.01)
G01B 11/06 H
, G01J 5/48 F
