特許

J-GLOBAL ID：201103080386946903

角度計と変位計の組み合わせによる回転体の円周形状と運動精度の分離測定方法及び測定装置

発明者： 小倉 一朗
出願人/特許権者： 独立行政法人産業技術総合研究所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-260202
公開番号（公開出願番号）：特開2002-071336
特許番号：特許第3396733号
出願日： 2000年08月30日
公開日（公表日）： 2002年03月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 被計測回転体の回転面任意半径円周上に、設定された角度で設置された3本の変位計と1本の角度計で回転面を測定し、差動演算で回転体のアンギュラモーションエラーとx、y軸周りのアキシャルモーションエラーの影響を取り除き、任意半径円周上の形状を求めることを特徴とする回転体の円周形状の測定方法。

IPC (3件)：

G01B 21/00 ,  B23Q 17/00 ,  G01B 21/20

FI (3件)：

G01B 21/00 F ,  B23Q 17/00 A ,  G01B 21/20 Z

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭59-218904
  
• 平面基板と3センサによる回転中心位置の自動検出法及び検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-101988   出願人：工業技術院長
• 特開平2-105007
  
• 特開平4-213017