光ファイバ引張試験による光ファイバひずみセンサ較正装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：古谷史旺
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-166839
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356568
特許番号：特許第4002367号
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光ファイバに荷重を負荷したときの長さの変化を基準に、光学的特性測定により得られた光ファイバのひずみを較正する光ファイバ引張試験による光ファイバひずみセンサ較正装置において、前記光ファイバの伸びに応じて上下位置が変動する支点部材と、前記支点部材を支点として一端に取り付けた小型負荷重錘により前記光ファイバの下端部を持ち上げるてこ部材とにより構成され、前記光ファイバの変位測定のための部材によって光ファイバにかかる初期荷重を除去する初期荷重除去装置と、前記初期荷重が除去された光ファイバに対して、負荷重錘により荷重を負荷する荷重負荷装置と、前記光ファイバの標点区間の上部および下部の変位を非接触で測定し、両者の差から標点区間の長さの変化を測定する変位測定装置と、前記光ファイバの標点区間の温度を一定に保持する温度制御手段とを備えたことを特徴とする光ファイバ引張試験による光ファイバひずみセンサ較正装置。

IPC (4件)：

G01M 11/00 ( 200 6.01) , G01L 1/24 ( 200 6.01) , G01L 25/00 ( 200 6.01) , G01N 3/00 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01M 11/00 S , G01L 1/24 A , G01L 25/00 B , G01N 3/00 H

引用特許：

出願人引用 (5件)

特開昭60-185137
細線材等のクリープ試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-254230 出願人：株式会社フジクラ
特開昭52-127388

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審査官引用 (5件)

特開昭60-185137
細線材等のクリープ試験装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-254230 出願人：株式会社フジクラ
特開昭52-127388

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