特許
J-GLOBAL ID:201103081167930135
測定用光学系
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小谷 悦司 (外2名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-023095
公開番号(公開出願番号):特開2000-221109
特許番号:特許第3284997号
出願日: 1999年01月29日
公開日(公表日): 2000年08月11日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被測定物の被測定領域から出射される光のうち所定の最大出射角以下の光線のみを受光手段の受光面に導光する測定用光学系であって、正のパワーを有する光学素子が、次の条件を満足するように前記被測定物と前記受光手段との間に配置されたことを特徴とする測定用光学系。前記被測定領域の一方端部から出射する光線のうち前記被測定領域から法線方向に出射する光線と、前記被測定領域の他方端部から出射する光線のうち出射角が前記最大出射角の光線とが、前記受光面の端部で交差する。
IPC (4件):
G01M 11/00
, G01J 1/00
, G01J 1/06
, G01J 3/46
FI (4件):
G01M 11/00 T
, G01J 1/00 E
, G01J 1/06 Z
, G01J 3/46
引用特許:
審査官引用 (2件)
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特開平4-083142
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光発散特性測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-243760
出願人:オリンパス光学工業株式会社, シャープ株式会社
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