特許
J-GLOBAL ID:201103081888901900
光学部品の光軸検出方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
千葉 剛宏
, 佐藤 辰彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-361813
公開番号(公開出願番号):特開2002-162548
特許番号:特許第3773414号
出願日: 2000年11月28日
公開日(公表日): 2002年06月07日
請求項(抜粋):
【請求項1】 レーザ光学機器を構成する光学部品の光軸検出方法であって、
光軸が設定された基準レーザ光を導出する基準光ユニットと、光学部品との間に光軸検出ユニットを配置し、前記基準レーザ光を前記光軸検出ユニットに照射して前記基準レーザ光の第1の光軸位置を検出する工程と、
前記光軸検出ユニットを光路上から離脱させた後、前記基準レーザ光を前記光学部品に照射して前記光学部品からの反射光を該反射光の光路上に配置された光軸検出ユニットに導入し、前記基準レーザ光の第2の光軸位置を検出する工程と、
前記第1の光軸位置と前記第2の光軸位置とが一致するように、前記光学部品の位置調整を行う工程と、
を有することを特徴とする光学部品の光軸検出方法。
IPC (4件):
G02B 7/00 ( 200 6.01)
, G01B 11/00 ( 200 6.01)
, G01B 11/26 ( 200 6.01)
, B23K 26/06 ( 200 6.01)
FI (4件):
G02B 7/00 D
, G01B 11/00 A
, G01B 11/26 Z
, B23K 26/06 Z
引用特許:
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