ダイオキシン簡易連続分析法と装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松永孝義
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-123354
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314732
特許番号：特許第3708750号
出願日： 1999年04月30日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】試料ガス中のダイオキシン類及びフラン類をガスクロマトグラフィーを用いて検出し、連続的に計測するダイオキシン簡易連続分析法において、試料ガス中に含まれる他のダイオキシン類及びフラン類のガスクロマトグラフィ検出ピークとは離れたところに検出ピークを持つオクタクロロジベンゾ-p-ダイオキシンおよび/またはオクタクロロジベンゾフランの量をガスクロマトグラフィにより定量することによって、予め求められている前記化合物の含有量と全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)との相関関係を示す検量線から全ダイオキシン類及びフラン類のTEQ(毒性等量)を求めることを特徴とするダイオキシン簡易連続分析法。

IPC (2件)：