特許
J-GLOBAL ID：201103082662757624

変位計測方法

発明者：
都志 益一

都志 益一 について

, 
稲葉 富男

稲葉 富男 について


出願人/特許権者：
株式会社ソーキ

株式会社ソーキ について


代理人 (1件)： 杉本 勝徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-152049
公開番号（公開出願番号）：特開2011-007657
出願日： 2009年06月26日
公開日（公表日）： 2011年01月13日
要約：
【課題】レーザー測距手段を用いて路面の沈下量等の変位量を計測する場合、レーザー測距手段の位置が前回の位置とずれた場合でも正確な変位量の計測を可能とすること。【解決手段】本発明の変位計測方法においては、レーザー光の照射角度を指定された方位角及び/または上下角に設定する機能を有するレーザー測距手段を用いて計測対象面の変位量を演算する変位計測方法において、前回もしくは前回以前の測量において得られた計測対象面上の特定の部位を変位基準点とし、変位基準点の3次元座標、もしくは測量機から変位基準点までの距離と視準方向を記憶しておき、今回の測量においては、記憶していた測量機から変位基準点の視準方向、もしくは変位基準点の3次元座標を用いて、変位基準点に相当する位置の点を視準点として視準して、視準方向において検出される計測対象面上の点を検出点とし、この検出点の3次元座標、または測量機から検出点までの距離を得て、変位基準点を基準とした検出点の変位量を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
レーザー光の照射角度を指定された方位角及び/または上下角に設定する機能を有するレーザー測距手段を用いて、レーザー光を所定の角度で計測対象面に対して斜めに照射して、前記計測対象面上の部位で直接反射した反射光を受光することによってレーザー光が照射された地点までの距離、または前記部位の3次元座標を計測し、 かつ、前記レーザー測距手段による距離、または前記部位の3次元座標の計測を時系列に繰り返し、 前記繰り返し計測した距離、または前記部位の3次元座標の変化に基づいて前記計測対象面の変位量を演算する変位計測方法において、 前記繰り返し計測した前記計測対象面の今回の測量結果と、前回もしくは前回以前の測量結果とを比較して、前記計測対象面の変位量を演算する場合に、 前回もしくは前回以前の測量において得られた前記計測対象面上の特定の部位を変位基準点とし、 前記変位基準点の3次元座標、もしくは前記測量機から前記変位基準点までの距離と視準方向を記憶しておき、 今回の測量においては、 記憶していた前記測量機から前記変位基準点の視準方向、もしくは前記変位基準点の3次元座標を用いて、前記変位基準点に相当する位置の点を視準点として視準して、 前記視準方向において検出される前記計測対象面上の点を検出点とし、この検出点の3次元座標、または前記測量機から前記検出点までの距離を得て、 前記基準点の3次元座標、もしくは前記測量機から前記変位基準点までの距離と、 前記検出点の3次元座標、もしくは前記測量機から前記検出点までの距離に基づいて、 前記変位基準点を基準とした前記検出点の変位量を算出することを特徴とする変位計測方法。
IPC (2件)：
G01C 7/02 ,  G01C 15/00
FI (2件)：
G01C7/02 ,  G01C15/00 103A
引用特許：
審査官引用 (4件)
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