特許
J-GLOBAL ID:201103083767464386

寿命検知方法、画像形成装置、及びプロセスカートリッジ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 近島 一夫 ,  相田 伸二 ,  田北 嵩晴
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-401142
公開番号(公開出願番号):特開2002-236437
特許番号:特許第3554309号
出願日: 2001年12月28日
公開日(公表日): 2002年08月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】電圧が印加された帯電部材によって帯電される感光体の寿命を検知する寿命検知方法において、前記帯電部材にDC電圧のみが印加された積算時間に関する第1の情報、及び前記帯電部材にAC電圧がDC電圧に重畳されて印加された積算時間に関する第2の情報に基づいて前記感光体の寿命検知を行い、前記寿命検知のために、前記第2の情報と前記第1の情報の重み付けは前記第1の情報より前記第2の情報の方が大きくなるように補正を加える、ことを特徴とする寿命検知方法。
IPC (4件):
G03G 21/00 ,  G03G 13/02 ,  G03G 15/02 ,  G03G 21/18
FI (4件):
G03G 21/00 512 ,  G03G 13/02 ,  G03G 15/02 102 ,  G03G 15/00 556
引用特許:
審査官引用 (2件)

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