特許
J-GLOBAL ID:201103085309873423
プロセスコントロールシステムのプロセス品質を予測する方法および装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
中島 淳
, 加藤 和詳
, 西元 勝一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-125850
公開番号(公開出願番号):特開2010-287227
出願日: 2010年06月01日
公開日(公表日): 2010年12月24日
要約:
【課題】プロセスコントロールシステムのプロセス品質を予測する例示的な方法および装置を提供する。【解決手段】開示される例示的な方法は、第1の測定変数に関連する第1の値および第2の測定変数に関連する第2の値を含むプロセスに関するプロセスコントロール情報を第1の時間に受信すること、プロセスに関連する受信されたプロセスコントロール情報に基づく変動が閾値を越えるかどうかを判定すること、変動が閾値を越える場合、変動に対する第1の測定変数の寄与に基づいて第1の寄与値、および変動に対する第2の測定変数の寄与に基づいて第2の寄与値を計算すること、第1の寄与値、第2の寄与値、第1の値、または第2の値に基づいて少なくとも1つの補正アクションを確定すること、および、第1の時間後のある時間に少なくとも1つの補正アクションに基づいて予測プロセス品質を計算することを含む。【選択図】図1
請求項(抜粋):
プロセスコントロールシステムのプロセス品質を予測する方法であって、
第1の測定変数に関連する第1の値および第2の測定変数に関連する第2の値を含むプロセスに関するプロセスコントロール情報を第1の時間に受信し、
前記プロセスに関連する前記受信されたプロセスコントロール情報に基づく変動が閾値を越えるかどうかを判定し、
前記変動が前記閾値を越える場合、前記変動に対する前記第1の変数の寄与に基づいて第1の寄与値、および前記変動に対する前記第2の測定変数の寄与に基づいて第2の寄与値を計算し、
前記第1の寄与値、前記第2の寄与値、前記第1の値、または前記第2の値に基づいて少なくとも1つの補正アクションを確定し、
前記第1の時間後のある時間に前記少なくとも1つの補正アクションに基づいて予測プロセス品質を計算する、
ことを含む方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G05B23/02 R
, G05B19/418 Z
Fターム (9件):
3C100AA38
, 3C100AA56
, 3C100BB15
, 3C100BB27
, 5H223AA01
, 5H223DD03
, 5H223DD07
, 5H223EE28
, 5H223FF08
引用特許: