光線路損失測定システム及び測定方法

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出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外3名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-006700
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206004
特許番号：特許第3415783号
出願日： 1999年01月13日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光源からの光を、複数の測定対象光線路のうちの第1の光パワーメータが接続された測定対象光線路あるいは第2の光パワーメータの一方に出射させるように前記光源からの光線路を切り替える光線路切替手段と、前記光線路切替手段の光損失特性が予め記憶された記憶手段と、前記記憶手段に記憶されている前記光線路切替手段の光損失特性と前記第1の光パワーメータの測定値と前記第2の光パワーメータの測定値とに基づいて前記第1の光パワーメータが接続された測定対象光線路の光損失量を算出する光線路損失算出手段とを有することを特徴とする光線路損失測定システム。

IPC (2件)：