特許
J-GLOBAL ID：201103086683697813
光断層画像撮像装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長尾 達也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-174928
公開番号（公開出願番号）：特開2011-024842
出願日： 2009年07月28日
公開日（公表日）： 2011年02月10日
要約：
【課題】大まかな撮像を行うための低解像度モードと、詳細な画像を得る高解像度モードを備え、特に高解度像モードにおける断層像の撮像を高速化することが可能となる光断層画像撮像装置を提供する。【解決手段】光源からの光を測定光と参照光とに分割し、測定光を被検査物に導くと共に参照光を参照ミラーに導き、 被検査物によって反射あるいは散乱された測定光による戻り光と、参照ミラーによって反射された参照光と合波した光を検出して、被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、 前記被検査物に導かれる測定光の光束径を調整する光束径調整手段と、 分光手段、結像手段および光電変換素子アレイを備え、前記合波した光を検出する検出手段と、 前記光束径調整手段において調整される光束径に基づいて、前記光電変換素子アレイから信号を読み出し、撮像に用いる画素数と前記光源の波長バンド幅の比を変更する手段と、を有している。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光と合波した光を検出して、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検査物に導かれる測定光の光束径を調整する光束径調整手段と、
分光手段、結像手段および光電変換素子アレイを備え、前記合波した光を検出する検出手段と、
前記光束径調整手段において調整される光束径に基づいて、前記光電変換素子アレイから信号を読み出し、撮像に用いる画素数と前記光源の波長バンド幅の比を変更する手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B3/10 R
, G01N21/17 625
2G059AA06
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059FF09
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK04
, 2G059LL01
, 2G059MM01
, 2G059MM09
, 2G059MM10
