特許

J-GLOBAL ID：201103088219084771

放射線撮影システム、並びに欠陥画素検出装置及び方法

発明者： 多田 拓司
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (1件)： 小林 和憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-211941
公開番号（公開出願番号）：特開2011-223545
出願日： 2010年09月22日
公開日（公表日）： 2011年11月04日
要約：

【課題】格子歪みに起因した欠陥画素を精度良く検出することを可能とする。【解決手段】第1の吸収型格子21と第2の吸収型格子22との相対位置を変更することにより得られる複数の縞画像から被検体Hの位相コントラスト画像を取得するX線撮影システム10において、欠陥画素検出部30は、FPD20で取得されメモリ13に記憶された複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値(例えば、平均値及び振幅値)に基づいて欠陥画素を検出する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

放射線源から放射される放射線を通過させて縞画像を生成する第1の格子と、 前記縞画像の周期パターンに対して位相が異なる複数の相対位置で前記縞画像に強度変調を与える強度変調手段と、 前記強度変調手段により前記各相対位置で強度変調された縞画像を検出する放射線画像検出器と、を備えた放射線撮影システムに用いられる欠陥画素検出装置であって、 前記放射線源からの放射線照射下において、前記放射線画像検出器で取得される複数の縞画像に基づき、画素ごとに得られる強度変調信号の特性値に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする欠陥画素検出装置。

IPC (6件)：

H04N 5/367 ,  A61B 6/00 ,  G03B 42/02 ,  G01T 1/17 ,  G01T 7/00 ,  G21K 1/06

FI (6件)：

H04N5/335 670 ,  A61B6/00 330Z ,  G03B42/02 A ,  G01T1/17 D ,  G01T7/00 B ,  G21K1/06 B

Fターム (27件)：

2G088GG19 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ11 ,  2G088JJ22 ,  2G088JJ29 ,  2G088JJ36 ,  2G088KK24 ,  2G088KK32 ,  2G088LL11 ,  2H013CZ01 ,  4C093AA01 ,  4C093AA30 ,  4C093CA13 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FD03 ,  4C093FF19 ,  4C093FG04 ,  5C024AX11 ,  5C024CX22 ,  5C024CY44 ,  5C024GY31 ,  5C024HX21 ,  5C024HX23 ,  5C024HX31

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 放射線画像処理装置および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2008-177612   出願人：富士フイルム株式会社
• ノイズ補正回路、撮像装置及びノイズ補正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-274497   出願人：ソニー株式会社