特許
J-GLOBAL ID：201103088449783067
プロセス制御システムで用いられる診断ツール、プロセス制御システムにおける問題を診断する方法、および機能ブロック
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
角田 嘉宏
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-044346
公開番号（公開出願番号）：特開2000-250619
特許番号：特許第3552629号
出願日： 2000年02月22日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
請求項（抜粋）：
【請求項1】プロセス実行中にプロセスを制御するように構成された多数の機能ブロックを有するプロセス制御システムで用いられる診断ツールであって、前記プロセス制御システムの動作の間に定期的に多数の機能ブロックの各々の機能ブロック動作パラメータに関するデータを受信するように、多数の機能ブロックの各々と通信するように構成されたデータ収集ユニットと、受信された機能ブロック動作パラメータデータに基づいて、前記プロセス制御システム動作の間、前記データ収集ユニットがデータを受信したときのうちのいくつかのときにおいて、機能ブロック動作パラメータの値を決定するデータ解析器と、機能ブロック動作パラメータの決定された値に基づいて前記プロセス制御システム内の問題を繰り返し検出する検出器と、検出された問題を示す報告を作成する出力ジェネレータとを含み、前記機能ブロック動作パラメータは、変動性パラメータであり、前記データ解析器は、前記データ収集ユニットが機能ブロック動作パラメータデータを受信したときのうちのいくつかのときにおいて、収集された機能ブロック動作パラメータデータに基づいて、機能ブロックのひとつと関連する変動性値を決定することを特徴とする、診断ツール。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G05B 23/02 T
, G05B 13/02 A
