特許
J-GLOBAL ID：201103090430243317
不要輻射解析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小栗 昌平
, 市川 利光
, 高松 猛
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-196190
公開番号（公開出願番号）：特開2001-022813
特許番号：特許第3821612号
出願日： 1999年07月09日
公開日（公表日）： 2001年01月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 論理シミュレーションの実行によってLSIの不要輻射量を解析する方法であって、
論理シミュレーション中の信号変化の発生時に生成され、発生対象である各セルのインスタンス名、その信号名、発生時刻、遷移情報を含む各イベント情報から処理対象となるインスタンスの瞬間電流情報をライブラリから抽出し、論理シミュレーションの実行によって、瞬間的な電流量を算出する工程と、
電流波形算出処理部が、前記瞬間的な電流量をモデル化する工程と、
前記モデル化する工程は、前記瞬間的な電流量を三角波の面積が各イベントの電流量になるように、各イベント情報毎にセルの出力端子におけるスリュー情報(出力スリュー)を考慮して幅を算出するとともに、この幅に基づいて高さを算出した三角波状にモデル化する工程を有し、
高速フーリエ変換(以下、FFTとする)処理部が、前記三角波状にモデル化する工程によって算出された電流変化情報を高速フーリエ変換処理する工程とを有する不要輻射解析方法。
IPC (3件)：
G06F 17/50 ( 200 6.01)
, G01R 29/08 ( 200 6.01)
, G06F 17/14 ( 200 6.01)
G06F 17/50 666 V
, G01R 29/08 Z
, G06F 17/14
