特許
J-GLOBAL ID：201103091551946940
試験装置および試験方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-196955
公開番号（公開出願番号）：特開2011-059113
出願日： 2010年09月02日
公開日（公表日）： 2011年03月24日
要約：
【課題】複数の試験回路を同期して動作させる試験装置。【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の試験部と、少なくとも1つの試験部をそれぞれ含む複数のドメインのそれぞれについて、それぞれのドメインに含まれる少なくとも1つの試験部を同期させる第1の同期部および第2の同期部と、を備え、第1および第2の同期部のそれぞれは、当該同期部に接続された試験部からの同期要求をドメイン毎に集約するローカル集約部と、第1の同期部に接続された試験部および第2の同期部に接続された試験部を含む分散ドメインについて、当該同期部内で集約した同期要求を他方の同期部内で集約した同期要求と交換する交換部と、他方の同期部内で集約した同期要求と当該同期部内で集約した同期要求とを集約するグローバル集約部と、当該同期部に接続された試験部のそれぞれに対して、集約した同期要求を分配する分配部と、を有する試験装置を提供する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記少なくとも1つの被試験デバイスを複数の端子を介して試験する複数の試験部と、
前記複数の試験部のうち少なくとも1つの試験部をそれぞれ含む複数のドメインのそれぞれについて、それぞれのドメインに含まれる前記少なくとも1つの試験部を同期させる第1の同期部および第2の同期部と、
を備え、
前記第1の同期部および前記第2の同期部のそれぞれは、
前記複数の試験部のうち当該同期部に接続された試験部からの同期要求をドメイン毎に集約するローカル集約部と、
前記複数のドメインのうち前記第1の同期部に接続された試験部および前記第2の同期部に接続された試験部を含む分散ドメインについて、当該同期部内で集約した同期要求を他方の同期部内で集約した同期要求と交換する交換部と、
前記分散ドメインについて、前記他方の同期部内で集約した同期要求と当該同期部内で集約した同期要求とを集約するグローバル集約部と、
前記複数の試験部のうち当該同期部に接続された試験部のそれぞれに対して、当該試験部を含むドメイン内で集約した同期要求を分配する分配部と、
を有する試験装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2G132AA00
, 2G132AB01
, 2G132AE22
, 2G132AG01
, 2G132AH07
, 2G132AL11
