物品検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人ワンディーIPパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-253675
公開番号（公開出願番号）：特開2011-099725
出願日： 2009年11月05日
公開日（公表日）： 2011年05月19日
要約：

【課題】物品の製造日や製造ロット等の違いに起因して良品の画像に関する特徴値が変動する場合であっても、規定量に対する物品の過不足を適切に判定することが可能な物品検査装置を得る。【解決手段】X線検査装置1は、検査対象である物品12に対してX線を照射するX線照射部7と、物品12を透過したX線を検出するX線検出部8と、X線検出部8の検出結果に基づいて物品のX線透過画像を作成し、当該画像に関する代表階調値と、上限しきい値TH2及び下限閾値TH1とを比較することにより、規定量に対する物品の過不足を判定する処理部9とを備え、処理部9は、直近の複数回の検査によって得られた複数の代表階調値に基づいて、現在設定されている上限しきい値TH2及び下限閾値TH1を変更する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

検査対象である物品に対して放射線を照射する照射部と、物品を透過した放射線を検出する検出部と、前記検出部の検出結果に基づいて物品の画像を作成し、当該画像に関する特徴値と、第1のしきい値とを比較することにより、規定量に対する物品の過不足を判定する処理部とを備え、前記処理部は、直近の複数回の検査によって得られた複数の前記特徴値に基づいて、現在設定されている前記第1のしきい値を変更する、物品検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 , G01T 1/24

FI (2件)：

G01N23/04 , G01T1/24

Fターム (25件)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001DA08 , 2G001DA10 , 2G001FA01 , 2G001FA30 , 2G001GA03 , 2G001GA06 , 2G001HA12 , 2G001HA13 , 2G001JA09 , 2G001JA16 , 2G001KA05 , 2G001KA20 , 2G001LA01 , 2G001PA03 , 2G001PA06 , 2G001PA11 , 2G001SA13 , 2G088FF02 , 2G088GG21 , 2G088JJ04

引用特許：

審査官引用 (2件)

異物検出装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-090966 出願人：アンリツ産機システム株式会社
X線容器内容量検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-300469 出願人：株式会社日立メディコ

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