特許
J-GLOBAL ID：201103093386232344
検査回路挿入方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
前田 弘 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-329348
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222456
特許番号：特許第3410698号
出願日： 1999年11月19日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の機能ブロックを互いに接続して集積回路を形成し、前記集積回路における各機能ブロックの検査を行なうように、記憶部を備えた検査回路挿入装置が前記集積回路に検査回路を挿入する検査回路挿入方法であって、前記検査回路挿入装置に、前記複数の機能ブロックのうち、検査対象となる機能ブロックにおける、入力ピンと該入力ピンと接続されるテスト入力用外部ピンとの入力対応関係情報、及び出力ピンと該出力ピンと接続されるテスト出力用外部ピンとの出力対応関係情報を含むピン対応指定情報を入力するピン対応指定情報入力工程と、前記ピン対応指定情報を解析して機械が読み取り可能なピン対応情報を電子情報として生成して前記記億部に出力するピン対応指定情報解析工程と、前記集積回路の集積回路情報から機能ブロックごとの接続関係を解析して接続関係情報を電子情報として生成する集積回路情報解析工程と、前記記憶部の前記ピン対応情報に基づいて、検査モード時に前記テスト入力用外部ピンから検査対象となる機能ブロックの入力ピンに検査データを入力する検査入力回路と、前記テスト入力用外部ピンが通常動作モード時の出力ピン又は双方向ピンである場合に、該出力ピン又は該双方向ピンを検査モード時に検査データを入力可能とする入力信号方向制御回路とを、前記テスト入力用外部ピンと前記検査対象となる機能ブロックとの間に挿入して前記接続関係情報を更新し、前記記憶部の前記ピン対応情報に基づいて、検査モード時に検査対象となる機能ブロックの出力ピンから前記テスト出力用外部ピンに検査データを出力する検査出力回路と、前記テスト出力用外部ピンが通常動作モード時の入力ピン又は双方向ピンである場合に、該入力ピン又は該双方向ピンを検査モード時に検査データを出力可能とする出力信号方向制御回路とを、前記検査対象となる機能ブロックと前記テスト出力用外部ピンとの間に挿入して前記接続関係情報を更新し、更新された接続関係情報を検査可能集積回路情報として出力する検査可能集積回路情報出力工程とを備えていることを特徴とする検査回路挿入方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (2件)
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特開平3-004186
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データ生成装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-187321
出願人：富士通株式会社
審査官引用 (2件)
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特開平3-004186
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データ生成装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平3-187321
出願人：富士通株式会社
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