電界分布測定装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山川政樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-181865
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028636
特許番号：特許第3793117号
出願日： 2002年06月21日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光線を出射する光源と、電界に応じて光学的特性が変化する電気光学結晶と、前記光線の前記電気光学結晶への入射位置を変更する入射位置変更手段と、前記電気光学結晶に入射され、電界に応じた偏光変調を受けた光線に含まれる2つの独立な偏光成分を分離する偏光分離手段と、この偏光分離手段により分離された偏光成分の強度変化を電気信号に変換する光検出手段と、前記電気信号を処理し電界分布を出力する出力手段と、を備え、前記偏光分離手段が、前記光線の光路上における前記入射位置変更手段と前記光源との間に配置されていることを特徴とする電界分布測定装置。

IPC (1件)：