特許

J-GLOBAL ID：201103094141117341

ホール素子

発明者： ホーエ、ハンス-ペーター ,  サオエラー、ヨゼフ
出願人/特許権者： フラウンホーファー-ゲゼルシャフト・ツール・フェルデルング・デル・アンゲヴァンテン・フォルシュング・アインゲトラーゲネル・フェライン
代理人 (1件)： 森下 武一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-536592
特許番号：特許第3964679号
出願日： 2000年08月18日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 0ではないホール係数を有する領域(100)、 動作電流(I)を前記領域(100)に供給するための第1接続部(K1)、 前記第1接続部(K1)によって供給された動作電流(I)を受け取るための第3接続部(K3)、 ホール電圧を取り出すための第2接続部(K2)及び第4接続部(K4)、 互いに接続される二つの導電体部分(10a,10b)からなり、第1接続部(K1)又は第3接続部(K3)のうち同じ接続部に接続され、前記領域(100)を水平に実質的に取り囲む導電体パターンを含むホール素子であって、 前記領域(100)に関する第1接続部(K1)又は第3接続部(K3)の位置は領域(100)内での動作電流(I)の方向を決定するものであり、 前記二つの導電体部分(10a,10b)は前記領域(100)の互いに対向する側にそれぞれ位置し、前記領域(100)の周辺を前記二つの導電体部分(10a,10b)が接続されている接続部に向かって延び、その結果、前記二つの導電体部分(10a,10b)が接続されている接続部を通る動作電流(I)は、前記二つの導電体部分(10a,10b)を通る二つの動作電流に分けられていること、 を特徴とするホール素子。

IPC (3件)：

H01L 43/06 ( 200 6.01) ,  G01R 33/07 ( 200 6.01) ,  G11B 5/37 ( 200 6.01)

FI (3件)：

H01L 43/06 D ,  G01R 33/06 H ,  G11B 5/37

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 走査型ホール磁気計チップとその製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-045827   出願人：日本電気株式会社
• 半導体装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-358183   出願人：日本電装株式会社