特許
J-GLOBAL ID：201103096204644765
表面張力・界面張力測定のためのレーザー散乱法及びその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 守
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-278975
公開番号（公開出願番号）：特開2002-090281
特許番号：特許第3839234号
出願日： 2000年09月14日
公開日（公表日）： 2002年03月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レーザー光を液体表面あるいは液液界面に入射し、前記レーザー光を前記液体表面あるいは液液界面に発生する波により散乱させ、散乱光と参照光の干渉により前記波の周波数を求め、表面張力あるいは界面張力を測定するレーザー散乱法において、
レーザー光の単一光軸上のビーム拡がりを利用し、該拡がりの中の光の一部を信号光発生のための光に用い、残りの一部あるいは全部を参照光に用いることを特徴とする表面張力・界面張力測定のためのレーザー散乱法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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