特許
J-GLOBAL ID：201103096811800725

レーザー走査顕微鏡装置

発明者：
佐々木 豊

佐々木 豊 について


出願人/特許権者：
株式会社ニコン

株式会社ニコン について


公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-284460
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108904
特許番号：特許第4470246号
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レーザー光源からの光を対物レンズを介して、該対物レンズの光軸に直交する第1の方向に走査させる第1のスキャナと、 前記光源からの光を前記対物レンズを介して前記光軸方向に沿って第2の方向に走査させる第2のスキャナとを備え、前記光源からの光を立体試料内にて二次元的に走査し、前記立体試料内からの光を検出器で受光するレーザー走査顕微鏡装置において、 前記第1のスキャナの走査速度は、前記第2のスキャナの走査速度よりも相対的に速いという特性を有し、 前記第2のスキャナにより1ライン分の走査をしている間に、前記第1のスキャナは複数ライン分の走査を繰り返し、前記検出器で前記立体試料内からの光を受光するとともに、前記立体試料内からの光を変換した信号を積算するように制御し、かつ、前記積算した積算値が、前記第1のスキャナの1ライン分の走査によって取得した信号で画像形成を行うときに必要とされる信号の所定値よりも大きくなるように、前記レーザー光源からの光の強度を制御する制御手段を設けたことを特徴とするレーザー走査顕微鏡装置。
IPC (1件)：
G02B 21/00 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G02B 21/00
引用特許：
審査官引用 (4件)
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