特許
J-GLOBAL ID：201103097586341666
放射率が波長により変化する物体の温度のアクティブパイロメトリーのための方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川北 喜十郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-604196
特許番号：特許第3516922号
出願日： 2000年03月07日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の波長の輻射線を放射する物体の温度を求めるための方法であって、前記物体が、波長により変化する放射率を有し、ある環境内に配置され且つ該環境に依存する吸収端を有し、(a)照射波長帯における前記物体の少なくとも1つの反射率を測定することを含むステップにより、前記物体の、前記照射波長帯における放射率を求める段階であって、(i)第1スペクトル域の入射輻射線を物体に向けるステップと、(ii)物体から反射される、前記第1スペクトル域の前記入射輻射線の少なくとも一部を受けるステップと、(iii)前記第1スペクトル域の前記反射された輻射線の強度を示す信号を、第2のスペクトル域で応答する検出器を用いて測定するステップと、(iv)第3のスペクトル域の入射輻射線を物体に向けるステップと、(v)物体から反射される、前記第3スペクトル域の前記入射輻射線の少なくとも一部を受けるステップと、(vi)前記第3スペクトル域の前記反射した輻射線の強度を示す信号を第4のスペクトル域で応答する検出器を用いて測定するステップとにより、前記物体の少なくとも1つの反射率が測定され、前記第1スペクトル域と第2スペクトル域との重なり部分が前記照射波長帯の第1のサブバンドであり、前記第3スペクトル域と第4スペクトル域との重なり部分が前記照射波長帯の第2のサブバンドである、前記物体の前記照射波長帯における放射率を求める段階と、(b)前記照射波長帯と異なる第1放射波長帯における物体の放射率を、前記照射波長帯における前記放射率から推定する段階と、(c)物体により前記第1放射波長帯に放射される輻射線を受ける段階と、(d)第1放射波長帯において物体から受けた放射輻射線の強度を示す第1の信号を測定する段階と、(e)前記第1の信号と、第1放射波長帯において求められた放射率とから物体の温度を推定する段階とを含む方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 5/00 D
, G01J 5/02 K
