特許
J-GLOBAL ID:201103098370538607

電子部品ハンドラー

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 松永 宣行 ,  小合 宗一 ,  佐藤 玲太郎
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-506033
特許番号:特許第3542347号
出願日: 2000年04月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】a)部品2の山を乗せる水平面に対し傾斜する上面を有し、中心軸に取り付けられ該中心軸と同心円の周縁を有する供給車16と、b)該供給車16の上面で外方に放射状に間隔をあけて伸びる多数の突条28と、該供給車16の周縁に一定向きに部品2が1個づつ入るよう部品に合わせた寸法及び形状に多数形成される小腔32と、c)上記供給車16と同一平面上に接線的に並べて設置され、該供給車16の回転速度と同期にされた、環状立壁12を備えるキャリヤ板10と、d)両端の端子を内と外にして部品2を受け入れる部品2の形状及び寸法に形成した刻み14であって、上記供給車16の小腔32に一致する試験座となるものを一定間隔で多数、上記環状立壁12が備え、e)上記小腔32から上記試験座となる刻み14へと放射状に部品2を吸い込み転移させる第1の真空マニホルド36と、上記キャリヤ板10の継続する回転中に刻み14中の部品2を保持する第2の真空マニホルド36と、f)キャリヤ板10の刻み14に転移された部品2の端子に接触するようにされた少なくとも1個のローラ体54を備えた試験装置と、g)上記試験座の刻み14から部品2を別々に取り出し試験結果に応じてそれぞれの場所へ輸送する輸送装置と、以上を有することを特徴とする、両端に金属製の端子を少なくとも一対持つ平行六面体の部品の山を、電気パラメータ試験のため1個1個所定の向きに個々の座に入れ、試験結果に応じてそれら部品を分類する電子部品ハンドラー。
IPC (2件):
G01R 31/00 ,  G01R 31/26
FI (2件):
G01R 31/00 ,  G01R 31/26 Z
引用特許:
出願人引用 (5件)
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