特許
J-GLOBAL ID：201103098683689118
要因分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
井上 学
, 戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-010571
公開番号（公開出願番号）：特開2011-150496
出願日： 2010年01月21日
公開日（公表日）： 2011年08月04日
要約：
【課題】製造工程において多数の項目測定を経て製造される製造物について、製造物の知識がない場合でも測定項目間の関係を容易に把握できる要因分析装置を提供する。【解決手段】製造物の製造工程において測定する複数の特性値の測定データと、その測定順序または工程順序を入力とする。各測定項目についてその測定項目より測定順序または工程順序が前の項目の中から重回帰分析における説明変数を選択し、重回帰式を作成する。分析対象とする項目を指定し、特性要因図を用いて説明変数を階層的に表示することにより、多数の測定項目間の階層的な関係を自動的に可視化する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
製造工程において測定した各部品及び製造物の特性値に基づいて、ユーザが製造物の品質管理データを分析することを支援する装置であって、
評価の対象の部品及び製造物の各特性に関して、製造工程中において試験して得られた測定値データと、それら各測定項目の試験工程における試験時刻の時系列順序を表わす測定項目順序情報または試験工程順序情報の入力を受付け、受付けた測定値データと順序情報を2次記憶装置へ格納する手段と、
前記測定値データを、前記順序情報に従って並べ替え、各測定項目を回帰分析の目的変数と決めた場合に、前記順序情報において該測定項目より前に在り、かつ該測定項目と所定値以上の相関関係を持つ測定項目を回帰分析の説明変数と選択して、該目的変数に対する重(単)回帰分析を実行して、各測定項目毎の説明変数の重(単)回帰係数を算出して、2次記憶装置へ格納する手段と、
ユーザより要因分析の対象測定項目の指定を受付ける手段と、
前記指定された対象測定項目を最上位ノードの目的変数として、該目的変数の説明変数に当たる測定項目を下位ノードの説明変数として枝別れしたノードのデータを作成し、更に各下位ノードを目的変数とする説明変数の下位ノードを順次階層的に相対位置を算出する処理を繰り返して、特性要因図を作成して、ユーザインタフェースへ表示する手段と、
を有することを特徴とする要因分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (5件)：
3C100AA58
, 3C100BB15
, 3C100BB27
, 3C100EE06
, 3C100EE08
