特許
J-GLOBAL ID：201103099760112160
サンプリング位置決定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
井上 学
, 戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-128406
公開番号（公開出願番号）：特開2011-252870
出願日： 2010年06月04日
公開日（公表日）： 2011年12月15日
要約：
【課題】 サンプリング試料を収集する場合,対象とする領域を代表する地点を選択することは難しく,一定の位置からサンプリングを行っていたため,データの偏りが発生する場合があった。【解決手段】 対象領域を画像上で特定し、対象領域から特徴量を抽出する。さらに、特徴量を特徴量空間でクラスタリングし、代表特徴を求め、求めた代表特徴をサンプリング地点として抽出する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
解析対象となる画像データを入力する入力手段と、
前記画像データと地図データの位置を対応付ける画像対応部と、
前記画像対応部にて、前記地図データと対応づけられた画像データの特徴量を抽出する手段と、
前記抽出された特徴量を、特徴空間上でクラスタリングし、クラスタリング結果を空間解析する手段と、
前記空間解析した画像から代表点を抽出する手段と、
前記抽出した代表点をサンプリング位置として出力する出力手段とを、
有することを特徴とするサンプリング位置決定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2G059AA05
, 2G059BB20
, 2G059EE12
, 2G059FF01
, 2G059HH02
, 2G059KK04
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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