文献

J-GLOBAL ID：201202156906888308   整理番号：12A1461791

電解質ゲートダイヤモンドFETのイオン感応性評価

著者 (11件)： 金澤啓史 (早稲田大 理工) ,  荒木裕太 (早稲田大 理工) ,  荒木裕太 (JST-CREST) ,  堺俊克 (早稲田大 理工) ,  堺俊克 (JST-CREST) ,  梅沢仁 (早稲田大 理工) ,  梅沢仁 (JST-CREST) ,  立木実 (早稲田大 理工) ,  立木実 (JST-CREST) ,  川原田洋 (早稲田大 理工) ,  川原田洋 (JST-CREST)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 62nd  号： 2  ページ： 422  発行年： 2001年09月11日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電解質 ,  ゲート ,  ダイヤモンド ,  FET ,  イオン ,  感応性 ,  評価