文献

J-GLOBAL ID：201202159773541007   整理番号：12A1417285

DBRTD InGaAs/AlAsヘテロ構造エミッタに対する走査型ホットエレクトロン顕微鏡法(SHEM)実験

Scanning hot electron microscopy (SHEM) experiment on DBRTD InGaAs/AlAs Heterostructure emitter

著者 (5件)： ZHANG B. Y. (Tokyo Inst. Technol.) ,  KARASAWA S. (Tokyo Inst. Technol.) ,  HIRATA T. (Tokyo Inst. Technol.) ,  MIYAMOTO Y. (Tokyo Inst. Technol.) ,  FURUYA K. (Tokyo Inst. Technol.)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 48th  号： 2  ページ： 688  発行年： 2001年03月28日 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： InGaAs ,  AlAs ,  ヘテロ構造 ,  エミッタ ,  走査型 ,  ホットエレクトロン ,  顕微鏡法 ,  実験