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J-GLOBAL ID：201202202749047894   整理番号：12A0648525

偏光反射解析法による純Tiの不働態表面の観察

著者 (5件)： 倉内和則 (北大 大学院) ,  伏見公志 (北大 大学院) ,  中西貴之 (北大 大学院) ,  長谷川靖哉 (北大 大学院) ,  大塚俊明 (北大 大学院)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集
巻： 79th  ページ： 205  発行年： 2012年03月29日 
JST資料番号： Y0048A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *チタン ,  *不動態皮膜 ,  *顕微鏡観察 ,  *光学顕微鏡 ,  不動態化 ,  表面 ,  耐食性 ,  孔食 ,  微細構造 ,  固体レーザ ,  円偏光 ,  CCDカメラ ,  陽分極 ,  電流発生 ,  化学組成 ,  膜厚 ,  動電位分極 ,  局所損傷【外傷】 ,  *化成皮膜 ,  改変 ,  腐食
準シソーラス用語： Nd:YVO4レーザ ,  アノード分極 ,  局部損傷

分類 (3件)： 無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  めっき一般  (WC08021T) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (4件)： 偏光 ,  解析法 ,  Ti ,  観察