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J-GLOBAL ID:201202202936005038   整理番号:12A0507521

低圧プラズマ溶射-CVD過程でのプラズマジェット-基板の相互作用

Plasma Jet-Substrate Interaction in Low Pressure Plasma Spray-CVD Processes
著者 (4件):
資料名:
巻: 21  号:ページ: 202-210  発行年: 2012年03月 
JST資料番号: W0482A  ISSN: 1059-9630  CODEN: JTTEE5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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プラズマ溶射の従来の設備は,低圧運転に適合させることができ,PECVDのような処理が実行できる。トーチで発生したプラズマジェットを,速い対流速度と高いガス温度でキャラクタライズした。これらの特性の,堆積過程への影響を,簡単な理論的考察の枠組みで調査し,SiOxの堆積で得られた,様々な実験結果で例示した。この研究の結論によると,堆積過程は,基板表面への拡散効果で支配された。すなわち,堆積プロフィールと析出速度は前駆体密度と基板表面でのガス温度で決定された。ジェットの高い速度は,堆積機構で直接的な役割を演じなかった。しかし,この高い速度によって,前駆体の基板まで輸送が効率的になり,堆積に利用可能な前駆体密度を大きく増加した。Copyright 2011 ASM International Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
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プラズマ応用  ,  金属材料へのセラミック被覆 
タイトルに関連する用語 (5件):
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