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J-GLOBAL ID：201202205070492065   整理番号：12A1743272

分光偏光解析法と磁気光学Kerr効果スペクトロスコピーによる強磁性基板上の有機薄膜のキャラクタリゼーション

Characterization of Organic Thin Films on Ferromagnetic Substrates by Spectroscopic Ellipsometry and Magneto-Optical Kerr Effect Spectroscopy

著者 (8件)： FRONK Michael (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  SCHUBERT Christian (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  HAIDU Francisc (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  SCARLAT Camelia (Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR), Dresden, DEU) ,  DOERR Kathrin (Leibniz Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU) ,  ALBRECHT Manfred (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  ZAHN Dietrich R. T. (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU) ,  SALVAN Georgeta (Chemnitz Univ. Technol., Chemnitz, DEU)
資料名： IEEE Transactions on Magnetics  (IEEE Transactions on Magnetics)
巻： 48  号： 11  ページ： 2777-2780  発行年： 2012年11月 
JST資料番号： A0339B  ISSN： 0018-9464  CODEN： IEMGAQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 分光偏光解析法(SE)と磁気光学Kerr効果(MOKE)分光法により磁性基板上に作製した金属フタロシアニン(CuPcとCoPc)薄膜のキャラクタリゼーションについて報告した。磁性層積層がアクセス可能な磁場範囲内で飽和する場合に上部の常磁性膜の応答から強磁性基板のMOKE信号の分離は可能であることを示した。モデル化は可能であるが,金属層の薄膜光学定数と界面形態論の正確な知識に挑戦する必要がある。常磁性分子膜は強磁性基板の保磁力を減らし,60nmと100nmの厚みのCoPc膜はCo/Pt上で(73±3)°の平均分子傾斜角を持つことを発見した。

シソーラス用語： 偏光解析法 ,  磁気光学効果 ,  スペクトロスコピー ,  基板 ,  *有機材料 ,  キャラクタリゼーション ,  金属フタロシアニン
準シソーラス用語： 分光偏光解析法 ,  磁気光学的Kerr効果 ,  強磁性基板 ,  *有機薄膜

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (6件)： 分光偏光解析法 ,  磁気光学Kerr効果 ,  スペクトロスコピー ,  強磁性 ,  有機薄膜 ,  キャラクタリゼーション