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J-GLOBAL ID:201202205752558165   整理番号:12A1237579

Sn3Ag0.5Cu-xPOSS複合材はんだの微細構造と硬度に及ぼす少量のPOSS分子添加の影響

Influence of minor POSS molecules additions on the microstructure and hardness of Sn3Ag0.5Cu-xPOSS composite solders
著者 (5件):
資料名:
巻: 23  号:ページ: 1640-1646  発行年: 2012年09月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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SnAgCu-xPOSS(x=1,3,および5)の微細構造と硬度に及ぼす少量のPOSS(かご型シルセスキオキサン)分子添加の影響について調べた。SnAgCu-xPOSS複合材はんだを作製するために,POSS分子を分散質としてSnAgCuはんだ中に添加することにより,機械的混合法を採用した。微細構造観察,ビッカース硬度試験機およびナノインデンテーション試験により,はんだの微細構造進展と硬度を詳細に調べた。その結果は,共晶SnAgCu構造における分散したPOSS分子の効果と精錬したAg3Sn IMC粒子が共晶SnAgCu相の硬度を増加し,そして複合材はんだの硬度を増加することを示した。加えて,POSS分子の凝集のために,粗い木摺の形をした構造(POSS分子,Ag3Sn相および少量のCu6Sn5から構成される)がSnAgCu-5POSSはんだマトリクス中に形成し,それはSnAgCu-5POSSはんだの硬度を低減した。Copyright 2012 Springer Science+Business Media, LLC Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (2件):
分類
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固体デバイス材料  ,  接続部品 

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