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J-GLOBAL ID：201202207560578360   整理番号：12A0625379

偏光変調赤外反射吸収分光法とX線吸収微細構造を用い調べた薄膜調製法に依存するステアリン酸亜鉛Langmuir膜中の分子再配列

Molecular Rearrangement in a Zinc Stearate Langmuir Film Dependent on a Film Preparation Method Studied Using Polarization-Modulation Infrared Reflection Absorption Spectroscopy and X-ray Absorption Fine Structure

著者 (4件)： MURO Maiko (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  HARADA Makoto (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  OKADA Tetsuo (Tokyo Inst. of Technol., Tokyo, JPN) ,  HASEGAWA Takeshi (Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名： Journal of Physical Chemistry B  (Journal of Physical Chemistry B)
巻： 116  号： 10  ページ： 3148-3154  発行年： 2012年03月15日 
JST資料番号： W0921A  ISSN： 1520-6106  CODEN： JPCBFK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 偏光変調赤外反射吸収分光分析(PM-IRRAS)とX線吸収微細構造(XAFS)を用い断面像中のステアリン酸亜鉛からなるLangmuir(L)膜中分子の動的再配列を解析した。気液界面を横切るL膜(水上に展開した単分子層)の完全断面像は実験データに基づいて説明することが困難である。断面像は疎水性部分周りの結晶化,親水性部分周りの水和及び薄膜化合物とサブ相水溶液に含まれるイオン間相互作用によって決定される。すなわち,それによってL膜中分子の配列と配向を決定することができる。XAFSによって亜鉛カチオンに関する配位数を評価し,赤外分析によってカルボキシル基の配位構造を調べた。薄膜圧縮棒を用いることなく固定面積で調製したL膜は亜鉛カチオン周りの配位構造の時間依存性変化を示し,カルボキシル基領域中で高度に配向した配位構造を達成した。しかしながら,圧縮棒を用いるLangmuir技法によって調製したL膜は赤外とX線解析において無視できるスペクトル変化を示した。圧縮L膜中の炭化水素鎖は非圧縮膜よりも極めて均一であるが,カルボキシル基の均一分子配列が再配列することを制限し,亜鉛カチオン上の配位に関して安定構造を達成できない。

シソーラス用語： *カルボン酸塩 ,  *Langmuir膜 ,  断面 ,  転位反応 ,  *表面再構成 ,  配位数 ,  分子構造 ,  配位結合 ,  金属イオン ,  時間依存性 ,  経時変化 ,  均一性 ,  赤外反射吸収分光法 ,  偏光分光法 ,  信号変調 ,  XAFS ,  X線構造解析 ,  安定構造 ,  疎水性 ,  結晶化 ,  親水性 ,  水和 ,  イオン間相互作用 ,  カルボキシ基
準シソーラス用語： カルボキシル基 ,  X線解析 ,  X線吸収微細構造 ,  スペクトル変調 ,  亜鉛イオン ,  再配列反応 ,  配位構造 ,  表面再配列 ,  分子配列

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  液-気界面  (CB12020U)

物質索引 (1件)： ステアリン酸亜鉛

タイトルに関連する用語 (9件)： 偏光変調 ,  赤外反射吸収分光法 ,  X線吸収微細構造 ,  薄膜 ,  調製法 ,  ステアリン酸亜鉛 ,  Langmuir膜 ,  分子 ,  再配列