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J-GLOBAL ID：201202207600207254   整理番号：12A0715059

合成ジェットで冷却するLED型埋込みダウンライトの寿命予測

Life prediction of LED-based recess downlight cooled by synthetic jet

著者 (6件)： SONG Bong-min (Mechanical Engineering Dep., Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA) ,  HAN Bongtae (Mechanical Engineering Dep., Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA) ,  BAR-COHEN Avram (Mechanical Engineering Dep., Univ. of Maryland, Coll. Park, MD 20742, USA) ,  ARIK Mehmet (Thermal Systems Lab., GE Global Res. Center, Niskayuna, NY 12309, USA) ,  SHARMA Rajdeep (Lifing Technologies Lab., GE Global Res. Center, Niskayuna, NY 12309, USA) ,  WEAVER Stan (MicroSystem & MicroFluidics Lab., GE Global Res. Center, Niskayuna, NY 12309, USA)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 52  号： 5  ページ： 937-948  発行年： 2012年05月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： LED型照明器具の信頼性評価に対して,著者らが提案した階層モデルの適用および実行について詳細に述べる。能動合成ジェットで冷却するねじ込み口金・6in両立缶・ダウンライト・LED交換バルブをテストビークルとして用いる。この冷却装置の実験的に得た劣化率および既に確認した劣化機構に基づいて,ヒートシンク増強率の低減およびLED接合温度の増加を時間の関数として決定する。一連の合成ジェットの駆動装置およびLEDに一定電力を供給する2機能パワーエレクトロニクスの劣化機構も解析する。この劣化機構は,照明器具の寿命に及ぼす合成ジェット駆動装置およびLEDの影響を組み合わせたハイブリッドモデルの基礎として使用できる。パワーエレクトロニクスおよび合成ジェットの劣化解析を用いてLED寿命データからプロトタイプ照明器具の寿命を予測する。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *寿命予測 ,  *発光ダイオード ,  *埋込み【挿入】 ,  人工照明 ,  *信頼性 ,  モデル ,  *照明器具 ,  信頼性試験 ,  ICパッケージ ,  電力供給 ,  冷却系機器 ,  パワーエレクトロニクス ,  LED照明
準シソーラス用語： 階層モデル ,  ダウンライト ,  テストビークル

分類 (2件)： 発光素子  (NC03082G) ,  光源,照明器具  (NB12020F)

タイトルに関連する用語 (5件)： ジェット ,  LED ,  埋込み ,  ダウンライト ,  寿命予測