文献

J-GLOBAL ID：201202211332465528   整理番号：12A1008916

電子デバイスのEMC解析に対する自動近傍場走査アルゴリズム

Automated Near-Field Scanning Algorithm for the EMC Analysis of Electronic Devices

著者 (6件)： DESCHRIJVER Dirk (Ghent Univ., Ghent, BEL) ,  VANHEE Filip (Univ. Coll. Katholieke Hogeschool Brugge-Oostende(KHBO), Ostend, BEL) ,  VANHEE Filip (Katholieke Universiteit Leuven, Leuven, BEL) ,  PISSOORT Davy (Univ. Coll. Katholieke Hogeschool Brugge-Oostende(KHBO), Ostend, BEL) ,  PISSOORT Davy (Katholieke Universiteit Leuven, Leuven, BEL) ,  DHAENE Tom (Ghent Univ., Ghent, BEL)
資料名： IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility  (IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻： 54  号： 3  ページ： 502-510  発行年： 2012年06月 
JST資料番号： H0383A  ISSN： 0018-9375  CODEN： IEMCAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 先端電子システムでは,より高い周波数でより小さいチップ面積に,より多くの機能を集積し,システム内とシステム間EMCリスクを増大させている。本研究では電子デバイスのEMC解析に対する自動近傍場走査アルゴリズムを提案した。この方法を被験デバイスの電磁挙動をキャラクタライズするに要する近傍場(NF)走査点の数を最小化するため,逐次サンプリング戦略に適用した。選択された走査点をベースとし,Krigingアルゴリズムを適用し,改善解像度によりNFパターンを再構成した。この新アプローチを一組のプリント基板事例に適用し,その有効性と利便性を実証した。

シソーラス用語： *EMC効果 ,  *近傍場 ,  電磁場解析 ,  *走査装置 ,  プリント基板 ,  分解能 ,  固体素子 ,  クリギング
準シソーラス用語： 解像度 ,  電子デバイス

分類 (2件)： 雑音一般  (ND04010J) ,  電磁気学一般  (BD01020N)

タイトルに関連する用語 (6件)： 電子デバイス ,  EMC ,  解析 ,  近傍場 ,  走査 ,  アルゴリズム