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J-GLOBAL ID：201202211713618690   整理番号：12A1460716

CuおよびCu合金薄膜の遷移酸化段階のin situ超高真空透過型電子顕微鏡研究

In situ ultra-high vacuum transmission electron microscopy studies of the transient oxidation stage of Cu and Cu alloy thin films

著者 (2件)： YANG Judith C. (Univ. Pittsburgh, PA, USA) ,  ZHOU Guangwen (State Univ. New York, NY, USA)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 43  号： 11  ページ： 1195-1210  発行年： 2012年11月 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： Cu ,  合金薄膜 ,  遷移 ,  酸化 ,  段階 ,  超高真空 ,  透過型電子顕微鏡 ,  研究