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J-GLOBAL ID：201202213767180498   整理番号：12A0835038

表面実装チップ抵抗器の耐食性を測定するための試験方法

Testing method for measuring corrosion resistance of surface mount chip resistors

著者 (5件)： REID Michael (Stokes Inst., Univ. of Limerick, Ireland) ,  COLLINS Maurice N. (Stokes Inst., Univ. of Limerick, Ireland) ,  DALTON Eric (Stokes Inst., Univ. of Limerick, Ireland) ,  PUNCH Jeff (Stokes Inst., Univ. of Limerick, Ireland) ,  TANNER David A. (Materials and Surface Sci. Inst., Univ. of Limerick, Ireland)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 52  号： 7  ページ： 1420-1427  発行年： 2012年07月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表面実装チップ抵抗器は電子回路およびシステムに用いる全ての部品の中で最も単純で安価である。典型的には,抵抗器故障モードには,パラメトリックドリフトや間欠故障を示し,応用によっては全システム故障に陥る開回路,抵抗性短絡や抵抗変動が含まれる。チップ抵抗器は挑戦的な腐食条件が一般的であるような中央アメリカ,ラテンアメリカ,アジア,インド,太平洋地域などの市場を開発するために展開されており,現在では腐食がチップ抵抗器の第1番の故障機構であると信じられている。この研究の目的は,腐食の影響を受けやすい部品を同定したり,選別したりするための試験を開発することである。現代のプリント回路ボードアセンブリで抵抗器を代表する10個の精密級チップ抵抗器タイプを熱サイクリングおよび混合流動ガス暴露から構成されるマルチストレススクリーニングにかける。熱サイクリングおよび腐食ガス暴露の組合せにより,現場故障を置き換えて腐食の影響を受けやすい部品を同定する加速試験を得る。現在,現場故障を置き換えられる試験方法はこのほかに無い。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *表面実装 ,  *耐食性 ,  *抵抗器 ,  故障モード ,  *プリント基板 ,  熱サイクル ,  加速試験 ,  走査電子顕微鏡 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  曝露試験 ,  混合気体 ,  流体流
準シソーラス用語： 腐食ガス ,  混合流動

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 表面実装 ,  チップ抵抗器 ,  耐食性 ,  試験方法