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J-GLOBAL ID:201202215860855902   整理番号:12A1348973

X線自由電子レーザーの利用とビームライン技術(総説)

Review of Scientific Cases and Beamline Technology for X-Ray Free-Electron Laser
著者 (1件):
資料名:
巻: 40  号:ページ: 675-679  発行年: 2012年09月15日 
JST資料番号: X0335A  ISSN: 0387-0200  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 文献レビュー  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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X線自由電子レーザー(XFEL)は,高輝度,超短パルス,完全空間コヒーレンスを有する新しいX線源である。XEELの利用は,高時空間分解能と高コヒーレンスに基づいている。本論文では,X線自由電子レーザーの利用について報告した。短波長XEELの利用研究や世界の状況と日本の取り組みを概観し,SACLAのビームラインを紹介した。コヒーレントイメージングとその関連手法,非線形光学,ポンププローブ法などの応用を解説した。XFELは,他の先端光源と一緒に用いることにより,さらに威力を発揮する。超短パルスレーザとの同期実験についても述べた。
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