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J-GLOBAL ID：201202216448327809   整理番号：12A0249915

偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定

High Precision Measurement of Twist Elastic Constant K22 of LC Materials Based on the Ellipsometry Analysis

著者 (5件)： 石鍋隆宏 (東北大 大学院工学研究科) ,  森田ゆずか (東北大 大学院工学研究科) ,  大野友嗣 (東北大 大学院工学研究科) ,  宮下哲哉 (東北工大) ,  内田龍男 (仙台高専)
資料名： 電気学会電子デバイス研究会資料  (電気学会研究会資料)
巻： EDD-12  号： 1-4.7-29  ページ： 63-66  発行年： 2012年01月27日 
JST資料番号： Z0910A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 簡単かつ高精度な液晶材料の弾性定数K22の測定法を考案した。エリプソメトリを用いた捻れ配向液晶の電圧OFF時およびON時における偏光解析より液晶セルパラメータと弾性定数K22をそれぞれ分離して順次決定することに成功し,かつ測定精度の向上を達成した。本研究の成果により,配向分布にねじれを有する液晶デバイスの精密な設計・評価が可能となる他,将来は粘性係数の測定・評価に基づく動特性解析技術の確立により,液晶デバイスの高速化に大きく貢献できる。(著者抄録)

シソーラス用語： *偏光解析法 ,  弾性係数 ,  *精密測定 ,  スイッチング ,  液晶ディスプレイ ,  *結晶方位 ,  測定精度 ,  粘度 ,  動特性 ,  配向ベクトル ,  応答時間 ,  *分子配向 ,  ネマチック相 ,  角度 ,  傾斜角 ,  光干渉
準シソーラス用語： IPS ,  ダイレクタ ,  ねじれ配向 ,  高速応答 ,  TN方式 ,  ねじれ角 ,  プレチルト角

分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

引用文献 (8件)：

• [1] T. Kishimoto, K. Wako, T. Ishinabe, T. Miyashita and T. Uchida: SID Digest, pp.1857-1860 (2008).
• [2] Y. Ohno, T. Ishinabe, T. Miyashita and T. Uchida: Proc.l4th IDW Workshops, 1, pp. 47-50 (2007).
• [3] Y. Ohno, T. Ishinabe, T. Miyashita, T. Uchida: Japanese Journal of Applied Physics Vol. 48, 2009 p. 051502-1 - 051502-9 (2009).
• [4] R. Ogawa, Y. Ohno, T. Ishinabe, T. Miyashita and T. Uchida: Proc. 14th IDW, vol.3, p.1705-1706 (2007).
• [5] T. Ishinabe and T. Uchida: Molecular Crystals and Liquid Crystals, Vol.16, PP. 211-227 (2010).

タイトルに関連する用語 (3件)： 偏光解析法 ,  液晶材料 ,  弾性定数