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J-GLOBAL ID：201202218806676058   整理番号：12A1722724

低温透過型電子顕微鏡のための部位特異的集束イオンビームリフトアウト法

A site-specific focused-ion-beam lift-out method for cryo Transmission Electron Microscopy

著者 (6件)： RUBINO Stefano (Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE) ,  AKHTAR Sultan (Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE) ,  MELIN Petter (Dep. of Microbiology, Swedish Univ. of Agricultural Sciences, Box 7025, 750 07 Uppsala, SWE) ,  SEARLE Andrew (Gatan Inc., 25 Nuffield Way, Abingdon Oxon OX14 1RL, GBR) ,  SPELLWARD Paul (Gatan Inc., 25 Nuffield Way, Abingdon Oxon OX14 1RL, GBR) ,  LEIFER Klaus (Dep. of Engineering Sciences, Uppsala Univ., Box 534, 751 21 Uppsala, SWE)
資料名： Journal of Structural Biology  (Journal of Structural Biology)
巻： 180  号： 3  ページ： 572-576  発行年： 2012年12月 
JST資料番号： W0838A  ISSN： 1047-8477  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： 低温 ,  透過型電子顕微鏡 ,  集束