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J-GLOBAL ID：201202220944930709   整理番号：12A1337646

ホウ素ドープダイアモンド電極でのCr⁶⁺の高感度検出

Highly sensitive detection of Cr⁶⁺ on boron doped diamond electrodes

著者 (5件)： FIERRO Stephane (Dep. of Chemistry, Fac. of Sci. and Technol., Keio Univ., 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama 223-8522, JPN) ,  WATANABE Takeshi (Dep. of Chemistry, Fac. of Sci. and Technol., Keio Univ., 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama 223-8522, JPN) ,  AKAI Kazumi (Dep. of Chemistry, Fac. of Sci. and Technol., Keio Univ., 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama 223-8522, JPN) ,  EINAGA Yasuaki (Dep. of Chemistry, Fac. of Sci. and Technol., Keio Univ., 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama 223-8522, JPN) ,  EINAGA Yasuaki (JST, CREST, 3-14-1 Hiyoshi, Yokohama 223-8522, JPN)
資料名： Electrochimica Acta  (Electrochimica Acta)
巻： 82  ページ： 9-11  発行年： 2012年11月01日 
JST資料番号： B0535B  ISSN： 0013-4686  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ホウ素ドープダイアモンド(BDD)電極でのサイクリックボルタンメトリーおよび線形掃引ボルタンメトリーによりCr⁶⁺の電気化学的検出を行った。これは,Cr⁶⁺からCr³⁺への電気化学的還元に基づく方法である。得られたボルタモグラムは,0.03V vs. AgClでこの還元に関連する明確なピークを示し,クロム濃度範囲10ppb~5ppmで高精度の(r²=0.99)較正曲線を得ることができた。溶液中に溶存する他の金属(Cu,Cd,Pb,B,及びSe)の影響も調べたところ,Cr⁶⁺の較正曲線が変化しないことがわかった。実施したすべての実験で約3ppbの検出限界を達成した。結果の高い精度と再現性に加えて,電極材料の優れた安定性により,このシステムがクロム検出のための高い能力を備えていることが証明された。Copyright 2012 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： ダイヤモンド ,  *半導体電極 ,  炭素電極 ,  *示差パルスボルタンメトリー ,  検量線 ,  *定量分析 ,  検出限界 ,  妨害成分 ,  電極材料 ,  サイクリックボルタンメトリー ,  クロム化合物 ,  金属イオン ,  高感度 ,  ボルタンメトリー ,  カソード還元 ,  再現性 ,  精度 ,  安定性
準シソーラス用語： クロムイオン ,  *ダイヤモンド電極 ,  ホウ素ドープダイヤモンド ,  線形掃引ボルタンメトリー

分類 (3件)： 無機物質中の元素の電気分析  (CC05022V) ,  電気化学反応  (CB07050F) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (2件)： ホウ素 ,  高感度