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J-GLOBAL ID：201202222577437998   整理番号：12A0075826

グローバルシャッタCMOSイメージセンサの開発動向

Global Shutter Pixels for CMOS Image Sensors

著者 (2件)： 安富啓太 (静岡大 電子工研) ,  川人祥二 (静岡大 電子工研)
資料名： 映像情報メディア学会技術報告
巻： 35  号： 47(IST2011 69-77)  ページ： 1-8  発行年： 2011年11月11日 
JST資料番号： S0209A  ISSN： 1342-6893  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 画質劣化が課題であったCMOSセンサのグローバルシャッタであるが,最近kTCノイズのキャンセル可能な低雑音グローバルシャッタの報告がされている。本稿ではこれらの報告を総括するとともに,グローバルシャッタ特有の性能指標であるシャッタ効率の定義や画像に対する影響について述べる。(著者抄録)

シソーラス用語： *CMOS構造 ,  半導体素子 ,  *カメラ ,  シャッタ ,  *イメージセンサ ,  劣化 ,  画質 ,  雑音除去 ,  騒音抑制 ,  最適設計 ,  電荷移動
準シソーラス用語： CMOSイメージセンサ ,  *CMOSセンサ ,  グローバルシャッタ ,  ノイズ ,  ノイズキャンセリング ,  画質劣化 ,  開発動向 ,  低雑音化

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  写真機とその付属品  (QF05030V) ,  計測機器一般  (AD02000X)

引用文献 (25件)：

• TERANISHI, N. No image lag photodiode structure in the interline CCD image sensor. Tech. Dig., Int. Electron Device Meeting, Dec. 1982. 1982, 324-327
• LEE, P. P. K. An Active Pixel Sensor Fabricated Using CMOS/CCD Process Technology. Proc. of 1995 IEEE Workshop on CCDs and AISs, Apr. 1995
• GUIDASH, R. M. A 06μm CMOS Pinned Photodiode Color Imager Technology. Tech. Dig., Int. Electron Device Meeting, Dec. 1997. 1997, 927-929
• YONEMOTO, K. A CMOS Image Sensor with a Simple FPN-Reduction Technology and a Hole Accumulated Diode. Dig. Tech. Papers, IEEE Int. Solid-State Circuits Conf. (ISSCC), Feb. 2000. 2000, 102-103
• KAWAHITO, S. A column-based pixel-gain-adaptive CMOS image sensor for low-light-level imaging. Dig. Tech. Papers, IEEE Int. Solid-State Circuits Conf. (ISSCC), Feb. 2003. 2003, 224-225

タイトルに関連する用語 (4件)： グローバル ,  シャッタ ,  CMOSイメージセンサ ,  開発動向