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J-GLOBAL ID:201202226217739980   整理番号:12A1457815

プラズモニックナノ材料におけるホットスポットパターンの特性評価のための走査型第二高調波発生顕微鏡技術のロバスト性

Robustness of the scanning second harmonic generation microscopy technique for characterization of hotspot patterns in plasmonic nanomaterials
著者 (12件):
資料名:
巻: 8424  ページ: 842411.1-842411.8  発行年: 2012年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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走査型第二高調波発生(SHG)顕微鏡はナノパターン化金属表面を特性評価し,プラズモンによる局所場増強をマッピングするための重要なツールになってきた。この研究では大文字G字型及び小文字G字型金ナノ構造を研究し,走査方向,対物レンズの開口数,倍率,試料上のレーザスポットサイズに対する実験結果のロバスト性を試験した。MAGMASソフトウェアを用いてG字型構造における基本波の電流をシミュレーションした。これらの知見は走査型SHGに対するのみならず,局所場増強をイメージングし,操作する目的で走査型顕微鏡技術を利用するという一般的目的に対しても特に重要である。」
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分類 (3件):
分類
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非線形光学  ,  光学的測定とその装置一般  ,  固体プラズマ 
タイトルに関連する用語 (4件):
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